EMC測試分為兩個主要類別：

排放測試：確保電力線，通信線和系統(tǒng)本身發(fā)出的能量保持在可接受的限制之內。設備通常會失敗，因為它的某些部分會產(chǎn)生過多的輻射能量。

免疫測試：驗證正在測試的設備（EUT）即使受到外部干擾也能保持功能。失敗的常見原因是，一個或多個EUT的組件對應用的電場或磁場過于敏感。

從產(chǎn)品開發(fā)的早期階段來解決EMC的遵守非常重要，而仍然有時間解決任何問題。一旦設計和構建系統(tǒng)，就很難進行必要的修改。

不幸的是，當在正式的EMC測試活動中出現(xiàn)問題時，很難甚至不可能知道問題的確切位置。例如，說我們正在EMC室中測試系統(tǒng)。每個EMC問題都有三個部分：

受害者：受排放影響的組件。

耦合路徑：從源到受害者的路線。

EMC腔室測量了遠處的排放，因此這里的受害者將是測量天線，而路徑將是腔室內的自由空氣。但是，我們仍然不知道排放的來源。

另外，說計算機的屏幕在輻射免疫測試中開始眨眼。該問題的效果在屏幕上可見，但是問題的來源可能是屏蔽電纜有故障的屏蔽，主處理器對測試頻率的敏感性或其他內容。

識別電磁干擾（EMI）的原因通常需要特殊工具。實際上，如果該工具是近場探測器，則只有一種工具可以消除數(shù)小時的故障排除。在EMC測試期間，我們可以使用近場探針來識別來源和受害者。正如我們在文章后面討論的那樣，它們也可以用來驗證EMI屏蔽的有效性。

什么是近場探測器？

近場探針（圖1）是診斷工具，用于測量與其來源緊鄰的電磁場。它們使其對電場或磁性（H）磁場敏感。相比之下，遠場測量不能將電子場地與H場分開，因此很難確定干擾的來源。

近場探針的物理工作是基于麥克斯韋的方程式。將電子場探針放入時變電場時會產(chǎn)生可測量的電壓。同樣，H場探針在存在時間變化的磁場的情況下會產(chǎn)生可測量的電流。

近場探針，無論是電子場還是h場，通常都與頻譜分析儀一起觀察頻率分布。但是，如果要觀察時間變化，也可以使用示波器使用近場探針。

為什么在EMC測試中使用近場探針？

如上所述，近場探針可以幫助我們在EMC故障排除期間進行以下操作：

確定排放源。

查找敏感組件。

驗證屏蔽的有效性。

確定排放源

讓我們回到個示例中，在那里我們在EMC室內測試系統(tǒng)并遇到過多的排放。要進行故障排除，我們需要知道哪個組件或結構是問題的根源。近場探測如何幫助我們找到它？

在近場中，我們將擁有一個主要的電場或磁場。因此，我們將需要電子場和H場探針來找到排放源。為了測量發(fā)射水平，我們將探針放置在電路附近。知道排放量高的頻率或頻率，我們可以測量EUT周圍的磁場或電場。

查找敏感組件

在免疫測試中，我們應用強電場或磁場，并觀察系統(tǒng)是否按預期工作。當系統(tǒng)失敗測試時，這是因為組件或組件組對應用的字段及其頻率敏感。假設我們知道可能干擾EUT的頻帶，我們可以將信號發(fā)生器連接到探針并生成一個在EMC實驗室中觀察到的行為的場。

驗證屏蔽有效性

EMI屏蔽可吸收或反映電磁能。圖2顯示了EMC膠帶的一個示例，EMI屏蔽形式。

EMC膠帶用于屏蔽電子設備。